】分區(qū)測(cè)試曝光是一種高效提升軟件質(zhì)量的策略，通過(guò)將系統(tǒng)劃分為邏輯或功能模塊進(jìn)行針對(duì)性測(cè)試，快速定位缺陷并優(yōu)化資源分配，該方法基于風(fēng)險(xiǎn)分析，優(yōu)先測(cè)試核心或高頻使用區(qū)域，結(jié)合自動(dòng)化工具實(shí)現(xiàn)快速反饋循環(huán)，其優(yōu)勢(shì)在于提高缺陷檢出效率...